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1.
电子元器件失效分析与典型案例 已借6次.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: TN601/2
2.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015.10
文献类型: 图书 , 索书号: TN606/14
3.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN43/11
4.
可靠性物理
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TN6/47
5.
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书 , 索书号: TN05/40